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聚源LX9600功率器件動態參數測試係統

簡要描述:

聚源LX9600功率器件動態參數測試係統​ 
係統用途 是半導體分立器件動態參數測試的專用設備, 用於MOSFET、IGBT、快恢複二極管、雙極型三極管的動態參數測試。測試原理符合相應的國家標準、國家軍用標準,係統為模塊化、開放式結構,具有升級擴展潛能。◆ 菜單式測試程序編輯軟件操作簡便◆ 正負脈衝激勵源

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聚源LX9600功率器件動態參數測試係統​ 

係統用途

  聚源LX9600功率器件動態參數測試係統是半導體分立器件動態參數測試的專用設備, 用於MOSFET、IGBT、快恢複二極管、雙極型三極管的動態參數測試。測試原理符合相應的國家標準、國家軍用標準,係統為模塊化、開放式結構,具有升級擴展潛能。

  係統特點

  PC機為係統的主控機

  ◆ 菜單式測試程序編輯軟件操作簡便

  ◆ 正負脈衝激勵源

  ◆ 美國Lecroy 400M存儲示波器用於時間測量,zui小時間測量分辨率200pS

  ◆ 漏極電壓達600V

  ◆ 漏極電流達200A

  ◆ 通過IEEE488接口連接校準數字表傳遞國家計量標準對係統進行校驗

  ◆ Prober接口、Handler接口可選(16Bin)

  ◆ 可為用戶提供豐富的測試適配器

  測試參數

  開啟時間Ton; 關斷時間Toff;延遲時間Td;

  存儲時間Ts; 上升時間Tr; 下降時間Tf;

  二極管反向恢複時間Trr;

  柵極總電荷Qg;柵源充電電量Qgs;柵漏充電電量Qgd等參數。

/

測試對象

  二極管: BVR、IR、VF、VZ、RZ

  三極管: BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT

  可控矽: BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、

  IH、IL、VGT、VON

  場效應管: BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP

  IGBT: BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)

  達林頓矩陣:ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO

  單結晶體管:Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2

  光敏二、三極管:ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE

  光 耦: CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR

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