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聚源LX9300大功率分立器件測試係統

簡要描述:

聚源LX9300大功率分立器件測試係統係統特點
◆ PC機為係統的主控機
◆ 菜單式測試程序編輯軟件操作簡便
◆ 預先連接測試自動識別NPN/PNP
◆ 0~±2000V程控高壓源(可擴展到±3000V)
◆ 高達±500A程控高流源(可擴展到±1000A)
◆ ±40V/±40A(可擴展到±80V、±50A)的可編程電壓電流源通過測試係統先進的硬件閉環測試方法

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聚源LX9300大功率分立器件測試係統係統用途

  本測試係統不僅滿足大功率VDMOS的GFS(跨導)測試、IGBT功率參數的測試,還涵蓋中小功率半導體器件的測試,適用於半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測,各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門進行入廠檢驗、可靠性分析測試

  測試原理符合相應的國家標準、國家軍用標準。

聚源LX9300大功率分立器件測試係統係統特點

  ◆ PC機為係統的主控機

  ◆ 菜單式測試程序編輯軟件操作簡便

  ◆ 預先連接測試自動識別NPN/PNP

  ◆ 0~±2000V程控高壓源(可擴展到±3000V)

  ◆ 高達±500A程控高流源(可擴展到±1000A)

  ◆ ±40V/±40A(可擴展到±80V、±50A)的可編程電壓電流源通過測試係統先進的硬件閉環測試方法實現功率VDMOS的GFS跨導的測試

  ◆ 測試漏流zui小分辨率達6.1pA

  ◆ 四線開爾文連接保證加載測量的準確

  ◆ 通過IEEE488接口連接校準數字表傳遞國家 計量標準對係統進行校驗

  ◆ Prober接口、Handler接口可選(16Bin)

測試對象

  二極管: BVR、IR、VF、VZ、RZ

  三極管: BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT

  可控矽: BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、

  IH、IL、VGT、VON

  場效應管: BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP

  IGBT: BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)

  達林頓矩陣:ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO

  單結晶體管:Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2

  光敏二、三極管:ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE

  光 耦: CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR

 

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